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一种石英晶片尺寸的测量方法
发布时间:2019-07-22  浏览次数:5  分享:
本发明提供了一种石英晶片尺寸的测量方法,属于石英晶片测量技术领域。它解决了现有技术中石英晶片测量精度差的问题。石英晶片尺寸的测量涉及以下测量装置:光源、起偏器、检偏器、相机和处理器,本测量方法包括以下步骤:步骤一、调整测量装置的位置并摆放样品;步骤二,调整起偏器、检偏器以及石英晶片与起偏器、检偏器之间的角度;步骤三、拍摄图像并发送给处理器;步骤四,计算石英晶片的尺寸。该石英晶片尺寸的测量方法测量过程简单,操作方便且能够显著提高石英晶片尺寸测量的精度。