本发明提供了一种石英晶片尺寸的测量方法，属于石英晶片测量技术领域。它解决了现有技术中石英晶片测量精度差的问题。石英晶片尺寸的测量涉及以下测量装置：光源、起偏器、检偏器、相机和处理器，本测量方法包括以下步骤：步骤一、调整测量装置的位置并摆放样品；步骤二，调整起偏器、检偏器以及石英晶片与起偏器、检偏器之间的角度；步骤三、拍摄图像并发送给处理器；步骤四，计算石英晶片的尺寸。该石英晶片尺寸的测量方法测量过程简单，操作方便且能够显著提高石英晶片尺寸测量的精度。